ATPG
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自動測試圖樣產生(Automatic test pattern generation, ATPG) 系統是一種工具,產生資料給製造出來後的数字电路作測試使用。
測試超大型積體電路,要達到非常高的錯誤涵蓋率(en:Fault coverage)是非常困難的工作,因為它的複雜度很高。 針對組合邏輯(Combinatorial logic)和循序邏輯(Sequential logic)的電路測試,必須要使用不同的 ATPG 方法。
[编辑] 参见
- 測試可行性設計 (en:Design for Testing, DFT)
- en:Fault model
- en:ASIC
- en:VHSIC